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Publicación | |
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Título: | ANALYSIS OF THE STATISTICS OF DEVICE-TO-DEVICE AND CYCLE-TO-CYCLE VARIABILITY IN TIN/TI/AL:HFO2/TIN RRAMS. |
Tipo de participación en la aportación: | CONGRESO |
Nombre del congreso: | 21TH CONFERENCE ON `INSULATING FILMS ON SEMICONDUCTORS¿. |
Fecha de celebración del congreso: | 01/07/2019 |
Lugar de celebración del congreso: | CAMBRIDGE (UK) |
Páginas de la publicación: | None - None |
Año de publicación: | 2019 |
Autores: |
E. PEREZ D. MALDONADO CHRISTIAN JOSE ACAL GONZALEZ JUAN ELOY RUIZ-CASTRO FRANCISCO JAVIER ALONSO MORALES ANA MARIA AGUILERA DEL PINO FRANCISCO JIMENEZ MOLINOS CH. WENGER JUAN B. ROLDAN ARANDA |