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| Publicación | |
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| Título: | ANALYSIS OF THE STATISTICS OF DEVICE-TO-DEVICE AND CYCLE-TO-CYCLE VARIABILITY IN TIN/TI/AL:HFO2/TIN RRAMS |
| Título de la revista: | MICROELECTRONIC ENGINEERING |
| Tipo de aportación: | ARTICULO |
| Número de volumen: | 214 |
| Páginas de la publicación: | 104 - 109 |
| Año de la publicación: | 2019 |
| Autores: |
EDUARDO PEREZ DAVID MALDONADO CHRISTIAN JOSE ACAL GONZALEZ JUAN ELOY RUIZ-CASTRO FRANCISCO JAVIER ALONSO MORALES ANA MARIA AGUILERA DEL PINO FRANCISCO JIMENEZ MOLINOS CH WENGER JUAN B. ROLDAN ARANDA |
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